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產品中心塞貝克/熱電阻測定儀塞貝克系數LSR-3 (LSR L31)塞貝克系數/電阻測試儀
產品簡介：塞貝克系數/電阻測試儀 LSR L31 可擴展應用：低溫配件支持液氮自動冷卻（-100°C）及薄膜樣品測量；攝像頭和高阻配件分別提升電導率精度與測量范圍。完整ZT值需熱導率數據，通常依賴外部設備（如LFA）。可集成LFA導熱儀（LZT測量儀），或選配特殊適配器，采用哈曼法直接測量固體熱導率，從而直接獲得ZT值（結合塞貝克系數和電導率）。此集成哈曼法的升級系統稱為LSR-4，價值顯著。
產品型號：LSR-3 (LSR L31)
更新時間：2025-11-17
廠商性質：生產廠家
訪問量：27474
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基礎版 塞貝克系數/電阻測試儀 LSR-3（LSR L31）可通過多種可選配件功能擴展應用范圍。例如，低溫配件支持液氮冷卻至 -100 °C 的全自動測量，并配備專用的薄膜適配器，用于測量薄膜及薄層樣品。
可選攝像頭功能可實現電導率的高精度測定，而高阻配件則顯著擴展了測量范圍，適用于低電導率樣品的表征。
由于計算無量綱值 ZT 時，除塞貝克系數和電導率外，還需熱導率數據，因此通常需借助其他設備（如激光閃射法導熱儀 LFA）進行測定。為解決這一問題，林賽斯 塞貝克系數/電阻測試儀 可集成額外的激光閃射法導熱儀（參見 LZT 測量儀），或采用特殊適配器，通過哈曼法直接測量固體材料的熱導率。這是一種直接的ZT測定方法，結合原始的兩項測量數據，可推導出熱導率。集成哈曼法的 LSR 測量系統因其顯著附加價值，被稱為 LSR-4 。通過選配擴展測量電子設備，LSR-4 測量系統還可基于相同測量原理，利用阻抗光譜技術測定熱電模塊（TEG）的 ZT 值。
| 類型 | LSR-3 (LSR L31) | ||
| 溫度范圍： | 紅外爐體：室溫至 800 °C / 1100 °C 電阻爐體：室溫至 1500 °C 低溫爐體：-100 °C 至 500 °C | 水冷系統： | 必選 |
| 測量方法： | 塞貝克系數：靜態直流法 / 斜率法 電阻率：四探針法 | 塞貝克系數 測量范圍： | 1 µV/K 至 5000 µV/K（靜態直流法） |
| 氣氛： | 惰性、還原性、氧化性、真空 推薦使用低壓氦氣 | 電導率測量范圍： | 0.01 至 2 × 105 S/cm |
| 樣品夾具： | 垂直夾持，位于兩電極之間 可選適配器，適用于薄膜和薄層樣品 | 電流： | 低漂移電流，0 至 160 mA（可選 220 mA） |
樣品尺寸： (塞貝克系數測量) | 底面積：2 至 5 mm2 最大長度：23 mm 最大直徑：6 mm | 電極材料： | 鎳電極（-100 °C 至 500 °C） 鉑電極（-100 °C 至 1500 °C） |
| 圓盤形樣品尺寸： | 直徑：10 mm、12.7 mm、25.4 mm | 熱電偶類型： | K 型、S 型、C 型 |
| 熱電偶測量間距： | 4 mm、6 mm、8 mm |
| 附加模塊 | LSR-4 升級版 |
| 直流哈曼法： | 直接測量熱電元件的 ZT 值 |
| 交流阻抗光譜法： | 直接測量熱電模塊（TEG / Peltier 模塊）的 ZT 值 |
| 溫度范圍： | -100 °C 至 400 °C 室溫至 400 °C |
| 樣品支架： | 針式接觸，確保絕熱測量條件 |
| 樣品尺寸： | 矩形樣品：底邊 2 至 5 mm ，最大長度 23 mm 圓柱形樣品：最大直徑 6 mm ，最大長度 23 mm 模塊尺寸：最大 50 mm × 50 mm |
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